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半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)分析的三個主要領(lǐng)域:封裝翹曲、焊點可靠性和封裝強(qiáng)度

針對半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu),可通過計算機(jī)模擬的方式去分析。通常情況下,計算機(jī)模擬分析過程會將推導(dǎo)出的一般方程應(yīng)用于特定條件中,以便深入了解特定情況。標(biāo)準(zhǔn)的計算機(jī)模擬分析過程包括四個步驟。

首先,將支配某種自然現(xiàn)象的要素以及這些要素之間的關(guān)系歸納為數(shù)學(xué)表達(dá)式,如控制方程5,然后對分析對象進(jìn)行建模,以便進(jìn)行計算機(jī)模擬。接下來,將控制方程應(yīng)用到模型中,進(jìn)行數(shù)學(xué)計算,最后將計算結(jié)果應(yīng)用于現(xiàn)象進(jìn)行分析。計算機(jī)模擬分析方法主要分為:有限差分法(Finite Difference Method)、有限元法(Finite Element Method, FEM)和有限體積法(Finite Volume Method)。其中,有限元法被廣泛應(yīng)用于分析半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)。從工程角度而言,有限元法指將無限數(shù)量的點和自由度6轉(zhuǎn)化為有限數(shù)量的點和自由度的能力,這些點隨后被納入線性方程組進(jìn)行計算。

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5 控制方程(Governing Equation):構(gòu)成計算機(jī)代碼基礎(chǔ)的數(shù)學(xué)公式。在計算建模場景中,控制方程決定由代碼提前預(yù)設(shè)的隱藏的流體行為。

6 自由度(Degrees of Freedom):對某一統(tǒng)計量進(jìn)行最終計算時,可以自由變化的數(shù)值的個數(shù)。

有限元法由有限數(shù)量的被稱為元素的構(gòu)建模塊組成。每個元素都包含有限數(shù)量的點和一個控制方程,而數(shù)值則通過求解方程獲得。為了深化對結(jié)構(gòu)分析的了解,我們有必要知道結(jié)構(gòu)分析所需材料的三個關(guān)鍵屬性:熱膨脹系數(shù)(CTE)、泊松比(Poisson’s Ratio)和應(yīng)力(Stress)。

熱膨脹系數(shù)是用來描述材料因溫度波動而發(fā)生長度變化的一項指標(biāo)。一般來說,溫度升高時材料膨脹,溫度下降時材料收縮。因此,熱膨脹系數(shù)被定義為單位溫度上升時材料長度的增幅量。泊松比指材料在垂直于特定載荷方向上的膨脹或收縮,考慮物體所受的推拉作用可有助于我們更好地了解泊松比的概念。如果我們從兩端縱向拉動一個物體并對其施加拉力,那么物體會沿著長度方向伸展,沿著寬度方向收縮。但是,如果我們從兩端縱向推擠一個物體并對其施加壓縮力,那么物體會沿著這個力的方向收縮,沿著寬度方向伸展。最后,應(yīng)力指物體在受到外部作用時在內(nèi)部形成的內(nèi)力,用以抵抗這股外力,同時保持物體的形狀不變。應(yīng)力壓力是以單位進(jìn)行測量的。

這些材料特性應(yīng)用于半導(dǎo)體封裝結(jié)構(gòu)分析的三個主要領(lǐng)域:封裝翹曲、焊點可靠性和封裝強(qiáng)度。

翹曲分析

在進(jìn)行封裝時,當(dāng)溫度上升然后回落到室溫時,不同材料之間由于熱膨脹系數(shù)不同,可能導(dǎo)致封裝翹曲并造成封裝缺陷。因此,我們應(yīng)基于產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、材料的彈性模量7、熱膨脹系數(shù)、工藝溫度和時間,對封裝進(jìn)行結(jié)構(gòu)性分析,以便更好地預(yù)防翹曲及封裝缺陷。

7 彈性模量(Elastic Modulus):在固體力學(xué)中表示材料剛度的數(shù)值,是應(yīng)力與應(yīng)變的比值。

焊點可靠性

焊錫主要用于半導(dǎo)體封裝和PCB基板之間的機(jī)械和電氣連接。由于焊點可靠性非常重要,所以我們需要在封裝前對焊點進(jìn)行結(jié)構(gòu)性分析,以改進(jìn)封裝結(jié)構(gòu)和材料。

焊錫的失效主要源于兩個方面的共同作用——平面收縮造成的剪切斷裂以及軸向拉伸造成的拉伸斷裂。因此,在焊點結(jié)構(gòu)分析中,需要對各種工藝或使用條件下施加到焊點的應(yīng)力值進(jìn)行分析。

強(qiáng)度分析

因為封裝的作用是保護(hù)芯片免受外部影響,所以芯片在受外部影響時表現(xiàn)出的穩(wěn)健性要依靠封裝強(qiáng)度。為了確定封裝的穩(wěn)健性,我們可以使用萬能試驗機(jī)(UTM)8進(jìn)行三點彎曲或四點彎曲試驗,由此計算斷裂強(qiáng)度。結(jié)構(gòu)性分析可以模擬用萬能試驗機(jī)進(jìn)行的實驗,從而推導(dǎo)出封裝各個區(qū)域的應(yīng)力水平,并以特定材料的斷裂強(qiáng)度為參考來預(yù)測整個產(chǎn)品的斷裂強(qiáng)度。

8 萬能試驗機(jī)(UTM):一種測量材料強(qiáng)度的儀器,通過用一定重量拉伸或壓縮材料來測量其抗拉、抗彎和抗壓強(qiáng)度。

四有芯人注:UTM,即Universal Testing Machine。

散熱性能分析

電子設(shè)備在運行時會消耗電能并產(chǎn)生熱量。這種熱量會提高包括半導(dǎo)體產(chǎn)品在內(nèi)元件的溫度,從而損害電子設(shè)備的功能性、可靠性和安全性。因此,電子設(shè)備必須配備適當(dāng)?shù)睦鋮s系統(tǒng),以確保元件在任何環(huán)境下均能保持在一定溫度水平下。

鑒于散熱性能在半導(dǎo)體封裝中的重要作用,熱分析也成為了一項必不可少的測試內(nèi)容。因此,必須提前準(zhǔn)確了解半導(dǎo)體封裝在系統(tǒng)應(yīng)用時產(chǎn)生的熱量、封裝材料與結(jié)構(gòu)的散熱效果、以及溫度效應(yīng),并將其反應(yīng)在封裝設(shè)計中。

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▲圖3:封裝的關(guān)鍵溫度點(? HANOL出版社)

 對半導(dǎo)體封裝實施并使用熱分析,我們需要定義封裝的關(guān)鍵溫度點,包括:環(huán)境溫度(Ta)、結(jié)溫(Tj)、殼溫(Tc)和板溫(Tb)。封裝規(guī)格的溫度通常為最高結(jié)溫(Tj max.)或者最高殼溫,這兩點指的是確保半導(dǎo)體器件正常工作的最高溫度。圖3顯示了封裝原理示意圖中的各個溫度點。

四有芯人注:Ta: ambient temperature; Tj: junction temperature; Tc: case temperature; Tb: board temperature.

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▲圖4:封裝中的熱特性類型(? HANOL出版社)

 使用封裝的主要溫度點可以計算出熱阻,熱阻是最重要的熱保護(hù)特性。封裝熱阻是一個指數(shù),單位為℃/W,表示當(dāng)芯片產(chǎn)生1瓦熱量時,半導(dǎo)體產(chǎn)品相對于環(huán)境溫度所上升的溫度。該比值根據(jù)每種產(chǎn)品和環(huán)境條件而變化。常見的熱阻類型包括結(jié)到環(huán)境熱阻(Ja)、結(jié)到板熱阻(Jb)和結(jié)到殼熱阻(Jc),它們是封裝的抗熱性指標(biāo)。

電氣模擬

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▲圖5:封裝RLGC模型示例(? HANOL出版社)

 隨著半導(dǎo)體芯片傳輸速度的提升和密度的增大,封裝也對半導(dǎo)體產(chǎn)品的特性產(chǎn)生重大影響。特別是在封裝高性能半導(dǎo)體芯片時,必須要對封裝狀態(tài)進(jìn)行精確的電氣模擬。為了預(yù)測由高性能半導(dǎo)體芯片的復(fù)雜布線引起的電氣問題,需要使用諸如RLGC等模型。因此,電氣模擬可以創(chuàng)建各種模型,并利用這些模型來預(yù)測高速數(shù)字系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)傳輸用時、信號質(zhì)量和形狀精度。

在封裝電氣分析過程中,電氣模型的基本元素包括電阻(Resistance)、電感(Inductance)和電容(Capacitance)。電阻的強(qiáng)度足以阻礙電流的流動,它與物體中的單位電流成反比。電感是電路中電流變化引起的電磁感應(yīng)形成的反電動勢的比率。最后,電容是電容器在單位電壓作用下儲存電荷的物理量。

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▲圖6:電氣分析的不同方面(? HANOL出版社)

 如圖5所示,利用RLGC建模,可以預(yù)測的最重要特性,即信號完整性(SI)、電源完整性(PI)和電磁干擾(EMI)。信號完整性衡量的是電信號的質(zhì)量,電源完整性衡量的是電源傳輸?shù)馁|(zhì)量。最后,EMI指電磁干擾,即輻射或傳導(dǎo)的電磁波會干擾其他設(shè)備的運行的因素。因此,應(yīng)提前檢查噪聲問題,盡可能縮短其發(fā)展周期,確保電源完整性和電源配送系統(tǒng)能夠支持創(chuàng)建可靠的電路板。信號完整性、電源完整性和電磁干擾之間存在著密切的有機(jī)聯(lián)系,因此,綜合考量這三種特性的設(shè)計方案對于電氣分析至關(guān)重要。

半導(dǎo)體封裝清洗

半導(dǎo)體芯片封裝過程中通常會使用助焊劑和錫膏等作為焊接輔料,這些輔料在焊接過程或多或少都會有部分殘留物,還包括制程中沾污的指印、汗液、角質(zhì)和塵埃等污染物。同時,半導(dǎo)體組裝了鋁、銅、鉑、鎳等敏感金屬和油墨字符、電磁碳膜和特殊標(biāo)簽等相當(dāng)脆弱的功能材料。這些敏感金屬和特殊功能材料對清洗劑的兼容性提出了很高的要求。

合明半水基清洗工藝解決方案,可在清洗芯片封裝基板的焊接殘留物和污垢的同時去除金屬界面高溫氧化膜,保障下一道工序的金屬界面結(jié)合強(qiáng)度;對芯片半導(dǎo)體基材、金屬材料擁有優(yōu)良的材料兼容性,清洗后易于用水漂洗干凈。

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以上便是芯片封裝基板清洗,封裝基板的主要結(jié)構(gòu)和生產(chǎn)技術(shù)的介紹,希望可以幫到您!

 

 


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